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產(chǎn)品中心電池片PID測試儀便攜式現(xiàn)場PID測試儀
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便攜式現(xiàn)場PID測試儀（電位誘發(fā)衰減）測試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測試時間在8小時之內(nèi)（測量時間將少于8小時）。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle合作開發(fā)的。
更新時間：2025-08-28
產(chǎn)品型號：PID Check
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